Deutsches Patent- und Markenamt

 

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+++ Newsletter +++ für die Nutzer der Informationsdienste des DPMA

Ausgabe Januar 2008

+++ Deutsche und chinesische Patentbehörden bauen Zusammenarbeit aus +++

Im Rahmen seiner Asienreise unterzeichnete Dr. Jürgen Schade, Präsident des Deutschen Patent- und Markenamts (DPMA), am 27. Oktober 2007 ein Partnerschaftsabkommen mit Prof. Tian Lipu, dem Präsidenten des Staatlichen Amts für Geistiges Eigentum der Volksrepublik China (SIPO). Mit dieser Vereinbarung vertiefen die beiden Patentämter ihre seit nahezu 30 Jahren bestehende Zusammenarbeit.

"Die Zusammenarbeit zwischen der deutschen und der chinesischen Patentbehörde ist eng und vertrauensvoll. Gemeinsam wollen wir künftig noch stärker für den Schutz geistigen Eigentums eintreten", sagte Dr. Jürgen Schade. "Unsere Patentsysteme sollen im Sinne unserer Kunden effizienter, transparenter und benutzerfreundlicher werden", so Schade weiter.

Die am 27.10.2007 unterzeichnete Vereinbarung sieht eine intensive Zusammenarbeit für folgende Kernbereiche vor: Patentverfahren, Recherchemöglichkeiten, Klassifikation, Informationsdienste, IT-Systeme, Aus- und Fortbildung der Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter, Allgemeine Verwaltung, Sensibilisierung für den Schutz geistigen Eigentums, globale Patentfragen. Darüber hinaus sind regelmäßige Symposien und Amtsleitertreffen zu Aspekten des geistigen Eigentums geplant.

Während seines China-Besuchs hielt Schade außerdem Vorträge zum geistigen Eigentum und zur deutsch-chinesischen Zusammenarbeit in diesem Bereich im Deutschen Generalkonsulat von Shanghai, während eines chinesisch-deutschen Symposiums zum Schutz des Geistigen Eigentums in Nanjing, während des 5. Shanghai International IP Forums sowie an der Tongji Universität, an der Schade bereits im Mai eine Ehrenprofessur verliehen wurde.

+++ Deutsches und indisches Patentamt nehmen partnerschaftliche Beziehungen auf +++

Im Rahmen des Indienbesuchs von Bundeskanzlerin Dr. Angela Merkel haben der Präsident des Deutschen Patent- und Markenamts, Dr. Jürgen Schade, und Ajay Shankar, Secretary des Department of Industrial Policy & Promotion, am 30. Oktober 2007 eine gemeinsame Erklärung unterzeichnet. Darin vereinbaren beide Seiten eine Zusammenarbeit zwischen dem Deutschen Patent- und Markenamt und der indischen Patentbehörde.

"Indien spielt in der globalen Wirtschaft eine immer größere Rolle. Damit wächst auch die Bedeutung des geistigen Eigentums und seines wirksamen Schutzes in Indien", so Dr. Jürgen Schade. " Ich freue mich auf die Zusammenarbeit mit den Kolleginnen und Kollegen des indischen Patentamts. Gemeinsam werden wir für einen wirksamen Schutz geistigen Eigentums eintreten und so Innovationen fördern", fährt Schade fort.

Mit der gemeinsamen Erklärung nehmen das deutsche und das indische Patentamt erstmals eine Zusammenarbeit auf. Die beiden Ämter werden künftig in den Bereichen Kapazitäts- und Personalentwicklung sowie bei Programmen zur Sensibilisierung der Öffentlichkeit für das geistige Eigentum kooperieren. Dazu gehören der Austausch von Patentdaten, die gemeinsame Fortbildung von Mitarbeiterinnen und Mitarbeitern und die Organisation gemeinsamer Veranstaltungen.

+++ Elektronische Dienste mit verbesserten Funktionalitäten +++

--- DPMAkurier: Integration zusätzlicher Überwachungsmöglichkeiten für die Lieferdienste ---

(Überwachung nach Klassifikationen und Namen)
Wie bereits in der vergangenen November-Ausgabe des Newsletters angekündigt, werden neue Monitoringmöglichkeiten in den Service DPMAkurier integriert.
Wie bisher können weiterhin kostenfrei und automatisiert Benachrichtigungen zu publikationspflichtigen Verfahrensstandsänderungen von Schutzrechten sowie zu neuen Schutzrechtsanmeldungen und Eintragungen empfangen werden. Seit der 5. Kalenderwoche 2008 können zusätzlich bis zu 10 Namen von Anmeldern, Inhabern bzw. Erfindern hinterlegt werden. Außerdem ist nun eine Überwachung von bis zu 50 vollständige IPC-Symbolen (Patent), 10 Nizza-Klassen (Marke) und bis zu 50 Locarno-Klassen (Geschmacksmuster) möglich.

--- DEPATISnet: Verlinkung der Entgegenhaltungen mit PDF-Anzeige ---

Seit Oktober 2006 sind in der Anzeige der bibliografischen Daten die Entgegenhaltungen aufgeführt. Dabei werden die entgegengehaltenen Patentdokumente (Feldkürzel CT) und die entgegengehaltene Nichtpatentliteratur (Feldkürzel CTNP) in zwei getrennten bibliografischen Datenfeldern angezeigt.
Nun werden diese Entgegenhaltungen zudem verlinkt sein, so dass ein direkter Zugriff auf das entsprechende Dokument im praktikablen PDF-Format möglich ist.
Hinweis: Die Daten zu den Entgegenhaltungen basieren auf den Datenlieferungen des Europäischen Patentamts (sog. REFI-Daten).

--- DPMAdatenabgabe: Verlängerung der Bereitstellungsdauer ---

Bei den über DPMAdatenabgabe angebotenen Rohdaten zu Patenten und Gebrauchsmustern, Marken und Geschmacksmustern steht nicht nur die aktuelle Publikationslieferung zum Download bereit, sondern auch die Dateien der davor zuletzt veröffentlichten drei Wochen. Nun wird dieses Angebot schrittweise verlängert, so dass voraussichtlich ab April 2008 die Daten über einen Zeitraum von acht Wochen bereitgestellt werden. Diese Serviceverbesserung trägt dazu bei, z.B. auch längere Abwesenheitszeiten der Datenbezieher zu kompensieren und das individuelle Download-Verhalten insgesamt flexibler zu gestalten.

+++ Ankündigung IPC - Revision für April 2008 +++

Zum 01.04.2008 wird eine IPC-Revision erfolgen. Für die ab dann gültige IPC-Version 2008.04 wurde innerhalb der Unterklasse G05G (Steuer- oder Regelvorrichtungen ...) die Hauptgruppe G05G 1/00 mit ihren Untergruppen umstrukturiert. Der Bereich der Untergruppen 1/14 bis 1/28 wird überführt und umbenannt, teilweise stärker unterteilt und mit neuen Untergruppen ergänzt. Die Untergruppen 1/02 bis 1/12 werden beibehalten.
Die betroffenen Stellen werden Ihnen in unserem Internet-Dienst "Internationale Patentklassifikation" (http://depatisnet.dpma.de/ipc/ ) bereits jetzt in englischer Sprache und der deutschen Übersetzung sowie zu einem späteren Zeitpunkt auch in französischer Übersetzung zur Verfügung gestellt.

+++ Tipps und Tricks für die Recherche in den elektronischen Diensten +++

In dieser Folge der Tipps und Tricks geht es um die Recherche nach Sonderzeichen in DPMApublikationen.

Wir behandeln Sonderzeichen wie zum Beispiel die Buchstaben





Geben Sie bei der Recherche nur den Buchstaben "c" an, erhalten Sie auch nur die Treffer, bei denen explizit ein "c" im Namen steht. Namen oder Begriffe, die ein "c" oder "c" enthalten, werden nicht gefunden.

Wie erhalten Sie nun alle Treffer? Gehen Sie folgendermaßen vor:
Ersetzen Sie das Sonderzeichen durch ein Ausrufezeichen, z.B. "Petrovi!". Auf diesem Weg finden Sie "Petrovic", aber auch "Petrovic" und "Petrovic". Nicht aber "Petrovich" und "Petrovitsch". Möchten Sie auch diese Namensformen mit in die Suche einbeziehen, ist die Eingabe eines Fragezeichens nötig, also "Petrovi?".

Achtung: Die Methode mit dem Ausrufezeichen funktioniert aber nur am Wortende!
Suchen Sie hingegen nach einem Sonderzeichen am Wortanfang, so gelingt die Recherche nur mit Eingabe eines Fragezeichens, also "?alyj", um auch "Calyj" zu erhalten.

Sie können selbstverständlich auch das Sonderzeichen gezielt eingeben. Das geht aber nur über Umwege, z.B. in dem Sie das Sonderzeichen aus einem Word-Dokument in die Eingabemaske von DPMApublikationen kopieren.

+++ Patentüberwachungen durch Patentinformationszentren (PIZen) +++

Regelmäßige Patentüberwachungen ermöglichen es auf einfache und kostengünstige Weise, ständig über technische Schutzrechtsveröffentlichungen im eigenen Technikgebiet auf dem Laufenden zu sein. Der frühzeitige Hinweis auf entstehende Schutzrechte ist Voraussetzung für fristgerechte Einsprüche gegen Patenterteilungen und maximiert die verfügbare Entwicklungszeit für eigene kreative Umgehungslösungen.
In den Patentinformationszentren werden kundenspezifische Patentüberwachungen in der Regel monatlich durchgeführt, wobei hierzu meist die wöchentlich erscheinenden CDs/DVDs (DEPAROM/MIMOSA) der einzelnen Patentämter (DE, EP, WO) genutzt werden. Dieses Medium vermeidet -wie kein anderes- Unsicherheiten bei der zeitlichen Zuordnung einer Schutzrechtsveröffentlichung zu einem bestimmten Überwachungszeitraum. Das Überwachungsprofil eines Kunden kann neben der Definition des spezifischen Technikgebietes über die IPC (International Patent Classification) auch die Namen der Hauptkonkurrenten beinhalten. Die IPC teilt das gesamte Gebiet der Technik in sehr kleine (z.Zt. knapp 70.000) Teilsachgebiete ein.

Seit Anfang des Jahres 2006 können sich alle 3 Monate in einzelnen IPC-Bereichen Änderungen ergeben, um diese der technischen Entwicklung anzupassen. In Einzelfällen erfordern diese IPC-Änderungen eine Anpassung des Überwachungsprofils. Eine besondere Serviceleistung des Informationszentrums Technik und Patente besteht darin, die Überwachungsprofile ihrer Kunden fortlaufend auf einschlägige IPC-Änderungen zu überwachen und jeden Kunden auf die ihn betreffenden Änderungen hinzuweisen.
Patentinformationszentren, die regelmäßige Patentüberwachungen anbieten, finden Sie unter http://www.piznet.de, dem gemeinsamen Internetauftritt der deutschen Patentinformationszentren.

+++ Deutsche Patentinformationszentren und INSTI ausgezeichnet +++

Die Europäische Kommission hat 280 Fördermaßnahmen für die Zielgruppe der kleinen und mittleren Unternehmen untersucht und die 15 besten Good Practice-Beispiele ausgezeichnet. Die zwei deutschen Preisträger sind das Patentinformationszentrum Stuttgart und die INSTI-Patentaktion des Bundesministeriums für Wirtschaft und Technologie. Dem Patentinformationszentrum Stuttgart wurde stellvertretend für das gesamte Netzwerk der PIZen Reputation bei den Kunden, Kundenorientierung, Kundenzufriedenheit, neutrale Beratung, Kooperationsfähigkeit und Vernetzung attestiert.
Weitere Informationen: http://www.piznet.de/inhalt/Pressemitteilung-EU-Studie.pdf

+++ Termine +++

  • 8.-12. Februar 2008, Ambiente, Messe Frankfurt


  • 11. Februar 2008, Workshop zur Recherche in DEPATISnet, DPMA München
    • Halbtägiger praxisnaher Workshop zur Recherche nach nationalen und internationalen Patentveröffentlichungen. Der Workshop richtet sich besonders an interessierte Mitarbeiter ohne oder mit geringen Vorkenntnissen aus klein- und mittelständischen Unternehmen (KMU) im Raum München
    • Weitere Informationen: http://www.dpma.de/infos/aktuelles/workshop_depatisnet08_02.pdf


  • 13. Februar 2008, Trainingstag Patenblatt-CD, TIZ Berlin
    • In einer Gemeinschaftsveranstaltung mit der Fa. Jouve GmbH werden die Themenschwerpunkte Aufbau der Patentblatt-CD, XML-Download und Recherchemöglichkeiten unter MIMOSA 6 behandelt sowie ein praktisches Training durchgeführt
    • Information und Anmeldung: Tel: ++49 (0)30 /25 992-261, E-Mail: patentblatt-cd(at)dpma.de


  • 20. Februar 2008, Patentdatenbanken im Internet - "Ihr Zugang zu technischen Ideen", PIZ Kiel (Veranstaltungsort ist Raisdorf)



  • 2.-5. März 2008, IPI-ConfEx, Sevilla/Spanien
    • Fachkonferenz für Patentinformationsmanagement und Patentrecherche
    • Weitere Informationen: http://ipi-confex.com


  • 5./6. März 2008, Workshop "Von der Erfindung zum Patent" (Erfinder-Workshop Mecklenburg- Vorpommern), PIZ Rostock
    • In zwei halbtägigen Workshops für Einsteiger und Fortgeschrittene können die Workshopteilnehmer unter der Anleitung von Prüfern des DPMA selbst eine Erfindung entwerfen, eine Online-Recherche durchführen und die Patentfähigkeit beurteilen
    • Weitere Informationen: http://www.erfinderberatung-mv.de/veranstaltungen.cfm


  • 12.-15. März 2008, Musikmesse / Prolight + Sound, Messe Frankfurt
    • Internationale Fachmesse für Produkte aus Veranstaltungs- und Kommunikationstechnik, AVProduktion und Entertainment (DPMA-Stand: Foyer der Halle 4.1)
    • Weitere Informationen: http://pls.messefrankfurt.com/frankfurt/de/


  • 17. März 2008, Workshop zur Recherche in DEPATISnet, DPMA München
    • Halbtägiger praxisnaher Workshop zur Recherche nach nationalen und internationalen Patentveröffentlichungen. Der Workshop richtet sich besonders an interessierte Mitarbeiter ohne oder mit geringen Vorkenntnissen aus klein- und mittelständischen Unternehmen (KMU) im Raum München
    • Weitere Informationen: http://www.dpma.de/infos/aktuelles/workshop_depatisnet08_03.pdf


  • 1.-4. April 2008, analytica, Messe München
    • Internationale Fachmesse für Instrumentelle Analytik, Labortechnik und Biotechnologie mit analytica Conference (DPMA: Halle B2, Stand 167)
    • Weitere Informationen: http://www.analytica.de/


  • 2.-6. April 2008, Internationaler Erfindersalon, Genf/Schweiz

+++ Impressum +++

Herausgeber:
Deutsches Patent- und Markenamt (DPMA), Zweibrückenstraße 12, 80331 München, Tel: ++49 (0)89 /2195-2902,
E-Mail-Adresse: newsletter(at)dpma.de, Internet: http://www.dpma.de

Für alle technischen Fragen rund um DPMApublikationen und zur Abbestellung dieses Newsletters steht Ihnen unsere Hotline unter ++49 (0)89 /2195-2902 bzw. unter newsletter(at)dpma.de zur Verfügung.

*Hinweis: Um automatisierte Spamprogramme nicht zu unterstützen, ersetzen wir bei den hier genannten E-Mail Adressen das @-Zeichen durch "(at)".

© 2013 Deutsches Patent- und Markenamt | Stand vom 20.03.2013